ISO 11562:1996
w
ISO 11562:1996
21977

Тезис 

Describes the metrological characteristics of phase correct filters for the measurement of surface profiles. In particular it specifies how to separate the long and short wave content of a surface profile.


Общая информация 

  •  :  Withdrawn
     : 1996-12
  •  : 1
  •  : ISO/TC 213 Dimensional and geometrical product specifications and verification
  •  :
    17.040.20 Properties of surfaces

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.