Тезис Предпросмотр
ISO 14606:2015 gives guidance on the optimization of sputter-depth profiling parameters using appropriate single-layered and multilayered reference materials in order to achieve optimum depth resolution as a function of instrument settings in Auger electron spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy and secondary ion mass spectrometry.
ISO 14606:2015 is not intended to cover the use of special multilayered systems such as delta doped layers.
Общая информация
-
Текущий статус : PublishedДата публикации : 2015-12
-
Версия : 2
-
- ICS :
-
Chemical analysis
Приобрести данный стандарт
| Формат | Язык | |
|---|---|---|
| Бумажный |
- CHF88
Жизненный цикл
-
Ранее
WithdrawnISO 14606:2000
-
Сейчас
PublishedISO 14606:2015
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Этап: 90.92 (Будет пересмотрено) -
Будет заменено
Under developmentISO/FDIS 14606
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Будьте в курсе актуальных новостей ИСО
Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.